离型膜老化后离型力爬升的原因

离型膜老化后的离型力爬升主要是涂层中富余的Si-H的影响。表层的Si-H在烘箱里固化时最早消耗，但涂层内部的SiH难以100%消耗完，会有一定残留。当进行烘箱老化加压测试时，胶带与离型膜充分接触，并由于高温高压，内部的SiH也会与胶带接触，从而导致老化离型力爬升。离型力的稳定性需要通过熟化过程来解决，熟化越完全，内部富余的Si-H就越少，其老化的爬升就会越少。另外可以通过配方的设计使富余的SiH更少来解决。

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